工作原理
AG-550采用X射线管发射高能光子,照射样品后激发内层电子,产生特征X射线荧光。硅漂移探测器(SDD)捕获不同能量的荧光信号,通过多道分析系统(MCA)转换为元素种类与含量信息。仪器支持真空与氦气氛围两种检测模式,适应轻元素(如Na至U)的宽范围分析需求。
应用范围
适用于金属合金成分验证(如不锈钢、铝合金)、矿石品位检测、土壤重金属污染分析、食品包装材料有害元素筛查(如RoHS指令限制的Pb、Cd、Hg、Cr等)。可检测固体、粉末、液体等多种形态样品,满足GB/T 17359、ISO 15632等国内外标准要求。
产品技术参数
元素检测范围:Na(11)~U(92)
检测下限:1ppm(轻元素)~10ppm(重金属)
分析时间:≤120秒(标准模式)
探测器:硅漂移探测器(SDD,分辨率≤135eV)
X射线管:铑靶,最大电压50kV,电流1mA
显示方式:7英寸彩色触控屏(分辨率1024×600)
数据存储:内置8GB,支持USB/WiFi导出
电源:AC 100-240V(50/60Hz)
防护等级:IP54(防尘防溅)
产品特点
宽元素覆盖:支持从钠到铀的元素分析,尤其擅长轻元素与重金属检测。
智能软件:内置自动校准与基体效应修正算法,支持一键式操作与标准曲线导入。
多模式检测:真空/氦气双模式,适配不同密度样品与轻元素分析需求。
便携设计:紧凑型机身(重量≤12kg),集成触控屏与无线数据传输,适配现场与实验室使用。
合规与安全:符合CE、RoHS指令,配备三重安全联锁(辐射防护、紧急停机、故障报警)。