工作原理

NS-90 Plus采用动态光散射技术，激光照射样品后，散射光信号被高灵敏度探测器捕获，通过自相关函数分析光强波动，计算颗粒的扩散系数并推导粒径分布。同时，电泳光散射技术通过测量颗粒在电场中的迁移速度，结合理论模型得出Zeta电位。仪器配备精密温度控制模块（±0.1℃精度）与双角度检测系统（90°与15°），确保数据稳定性与适应性。

应用范围

适用于金属氧化物、聚合物、脂质体、乳液、胶体等纳米材料的粒径与电位分析。在生物医药领域，可表征蛋白质、外泌体、疫苗佐剂；在化妆品行业，用于纳米防晒剂、乳液稳定性研究；在环境科学中，可检测水体中的胶体颗粒与悬浮物。

产品技术参数

粒径范围：0.3nm-10μm（动态光散射）

Zeta电位范围：-200mV至+200mV

测量精度：粒径重复性≤2%，电位重复性≤5mV

温度控制：5℃-90℃（精度±0.1℃）

光源：固态激光器（波长635nm，功率≤5mW）

探测器：高灵敏度雪崩光电二极管（APD）阵列

产品特点

双参数同步测量：粒径与Zeta电位一键式检测，提升分析效率。

智能算法：内置自适应数据处理系统，自动优化测量参数与信号滤波。

高稳定性：光学系统与温度控制模块经严格优化，支持长时间连续测量。

用户友好：全中文界面、向导式操作流程及自动化清洗功能，降低使用门槛。

扩展性：支持第三方软件接口与定制化模块（如分子量测量），适配特殊应用场景。