工作原理
NS-90Z Plus通过动态光散射技术分析颗粒布朗运动,计算粒径分布;同时利用电泳光散射技术测量颗粒在电场中的迁移速度,结合Hückel或Smoluchowski理论推导Zeta电位。仪器采用高灵敏度光电探测器与精密温度控制模块,确保数据稳定性,支持自动优化测量参数以适应不同样品特性。
应用范围
该设备适用于纳米材料(如金属氧化物、聚合物)、生物医药(蛋白质、脂质体)、化妆品(乳液、纳米颗粒)及环境科学(胶体、悬浮液)等领域的粒径与电位分析。其多参数同步测量能力可满足从基础研究到工业品控的多样化需求。
产品技术参数
粒径范围:0.3nm-10μm(动态光散射)
Zeta电位范围:-200mV至+200mV
测量精度:粒径重复性≤2%,电位重复性≤5mV
温度控制:5℃-90℃(精度±0.1℃)
光源:固态激光器(波长635nm)
检测角:90°与15°双角度可选
产品特点
一体化设计:同步实现粒径、电位及分子量测量,提升分析效率。
智能算法:内置自适应数据处理系统,自动识别样品浓度与信号强度。
用户友好:全中文界面、向导式操作流程及自动化清洗功能,降低使用门槛。
高稳定性:光学系统与温度控制模块经严格优化,确保长期测量可靠性。
扩展性:支持第三方软件接口与定制化模块,适配特殊应用场景。