工作原理
T650plus采用X射线荧光光谱(XRF)技术,通过微聚焦增强型射线管发射高能X射线,穿透镀层后激发基体与镀层元素产生特征荧光辐射。仪器搭载Si-pin半导体探测器,精准捕获二次X射线信号,结合自主研发的数字多道脉冲信号处理技术,将荧光强度转化为镀层厚度数据。其微聚焦垂直光路系统可实现微小区域(最小Φ0.2mm)的精准聚焦,配合变焦装置(0-85mm可调),轻松应对异形凹槽件的无损检测。
应用范围
该设备覆盖单层、多层复合镀层及合金镀层的厚度分析,支持Au/Ni/CuZn、NiP/Al、ZnNi/Fe等复杂镀层体系检测。典型应用场景包括:汽车零部件(活塞、气门)、电子元器件(接插件、线材)、航空材料(发动机叶片)及卫浴五金件的镀层品控,同时可分析电镀液成分,助力生产工艺优化。
技术参数
涂镀层分析范围:Li(3)-U(92)
厚度检测精度:≤5%(稳定性控制)
探测器分辨率:129eV±5eV
准直器配置:Φ0.2mm/Φ0.3mm/Φ0.5mm三选一
变焦距离:0-85mm
分析时间:20-300秒
样品台尺寸:230×230mm,支持全自动移动平台
工作环境:15℃-30℃,相对湿度<70%
产品特点
无损高效:非破坏性检测避免损伤昂贵工件,单点测试仅需20秒,多点自动定位提升效率。
智能操作:配备增强型FP算法软件,一键生成检测报告,自动故障提示与操作校正。
适应性强:可测凹槽深度达85mm,支持固体、液体样品定性/定量分析。
低维护成本:无易损易耗品,运行稳定,适合大规模生产线部署。