工作原理

57XC基于偏光显微镜原理，通过起偏器产生偏振光，经样品后由检偏器分析。当样品为各向异性材料（如晶体、矿物）时，偏振光发生双折射，形成干涉图像；通过旋转检偏器可观察消光现象，进而分析样品的光性特征（如延性、光率体）。设备支持明场与偏光模式切换，满足多样本分析需求。

应用范围

适用于矿物晶体结构分析（如双晶、解理）、材料科学中各向异性物质检测（如金属晶界）、地质学岩石薄片鉴定，以及生物医学领域（如淀粉粒、纤维组织）的偏光观察。广泛服务于高校实验室、科研院所、地质勘探及工业质检机构。

产品技术参数

物镜配置：4×、10×、20×、40×（无限远消色差）

总放大倍数：40X-1000X

观察模式：偏光/明场可切换

载物台：360°旋转式（直径130mm，带刻度）

光源：卤钨灯12V30W（亮度可调）

滤色片：绿、蓝滤光片（插板式）

聚光镜：阿贝聚光镜1.25NA

摄像头接口：支持500万像素数字成像

电源：AC 220V/50Hz

产品特点

高精度偏光成像：采用无限远消色差物镜，消除像差，提升双折射图像清晰度。

360°旋转载物台：配备刻度旋转载物台，便于观察样品各向异性特征。

人性化操作：45°铰链式观察筒、可调目镜（屈光度±5D），减少操作疲劳。

耐用设计：不锈钢组件与防腐蚀结构，适应实验室与工业现场双场景。

数字化扩展：支持500万像素摄像头与图像分析软件，实现定量测量与数据保存。