工作原理
51XA-PC基于偏光显微镜原理,利用起偏器产生偏振光,经样品后由检偏器分析。当样品为各向异性材料(如金属晶体)时,偏振光发生双折射,形成干涉图像;明场模式则通过常规透射光成像,清晰显示样品表面细节。设备支持偏光与明场模式切换,满足多样本分析需求。
应用范围
适用于金属材料组织分析(如晶界、相组成)、矿物鉴定(如双晶结构)、陶瓷材料缺陷检测,以及高分子材料取向研究。广泛服务于冶金、地质、材料科学领域的教学、科研及工业质检,助力材料性能评估与工艺优化。
产品技术参数
物镜配置:5×、10×、20×、50×(无限远消色差)
总放大倍数:50X-1000X
观察模式:偏光/明场可切换
载物台:双层机械式(180×160mm,移动范围80×50mm)
光源:卤钨灯12V30W(亮度可调)
滤色片:绿、蓝滤光片(插板式)
聚光镜:阿贝聚光镜1.25NA
摄像头接口:支持500万像素数字成像
电源:AC 220V/50Hz
产品特点
双模式成像:偏光观察双折射现象,明场显示表面细节,满足多维度分析需求。
高精度光学系统:无限远消色差物镜,消除像差,提升图像清晰度。
人性化操作:30°铰链式观察筒、可调目镜(屈光度±5D),减少操作疲劳。
耐用设计:不锈钢组件与防腐蚀结构,适应实验室与工业现场双场景。
数字化扩展:支持500万像素摄像头与图像分析软件,实现定量测量与数据保存。