偏光明场观察金相显微镜
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偏光明场观察金相显微镜
来源:上海光学仪器六厂
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简介: 上海光学仪器六厂推出的偏光明场观察金相显微镜51XA-PC,是一款集偏光观察与明场成像于一体的多功能显微镜。该设备结合偏光技术与明场照明,适用于金属材料、矿物、陶瓷等各向异性物质的显微分析,为材料科学、地质研究及工业检测提供高精度成像解决方案。
产品详细

SOIF


工作原理

51XA-PC基于偏光显微镜原理,利用起偏器产生偏振光,经样品后由检偏器分析。当样品为各向异性材料(如金属晶体)时,偏振光发生双折射,形成干涉图像;明场模式则通过常规透射光成像,清晰显示样品表面细节。设备支持偏光与明场模式切换,满足多样本分析需求。



应用范围

适用于金属材料组织分析(如晶界、相组成)、矿物鉴定(如双晶结构)、陶瓷材料缺陷检测,以及高分子材料取向研究。广泛服务于冶金、地质、材料科学领域的教学、科研及工业质检,助力材料性能评估与工艺优化。



产品技术参数


物镜配置:5×、10×、20×、50×(无限远消色差)

总放大倍数:50X-1000X

观察模式:偏光/明场可切换

载物台:双层机械式(180×160mm,移动范围80×50mm)

光源:卤钨灯12V30W(亮度可调)

滤色片:绿、蓝滤光片(插板式)

聚光镜:阿贝聚光镜1.25NA

摄像头接口:支持500万像素数字成像

电源:AC 220V/50Hz


产品特点


双模式成像:偏光观察双折射现象,明场显示表面细节,满足多维度分析需求。

高精度光学系统:无限远消色差物镜,消除像差,提升图像清晰度。

人性化操作:30°铰链式观察筒、可调目镜(屈光度±5D),减少操作疲劳。

耐用设计:不锈钢组件与防腐蚀结构,适应实验室与工业现场双场景。

数字化扩展:支持500万像素摄像头与图像分析软件,实现定量测量与数据保存。

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标签:偏光明场观察金相显微镜,物理检测设备
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