工作原理
设备基于布拉格衍射定律,当X射线照射晶体时,特定晶面会产生衍射。通过探测器捕捉衍射角,结合已知晶面间距,可精确计算晶体取向角度。系统采用嵌入式架构,集成高性能处理器与专用算法,实现数据的实时采集、分析与显示。
应用范围
适用于单晶硅、蓝宝石、石英等晶体材料的定向切割与加工,尤其在半导体晶圆制造、光学棱镜加工、珠宝玉石定向等领域发挥关键作用。可满足科研机构、工业生产线及质检中心对晶体取向的高精度测量需求。
产品技术参数
X射线管电压:20kV~50kV(可调)
测量精度:±5角秒(标准条件下)
探测器类型:高分辨率CCD或CMOS传感器
扫描范围:0°~360°(全周向检测)
显示方式:彩色触摸屏,支持角度数值与衍射图谱同屏显示
接口配置:USB、RS232,兼容工业自动化控制
产品特点
高精度定向:采用亚角秒级测量技术,确保晶体切割角度的精准控制。
快速检测:单次扫描时间≤5秒,大幅提升生产效率。
嵌入式设计:集成化硬件与软件系统,无需外接计算机,操作便捷。
智能算法:自动识别衍射峰位,支持多晶面定向与异常数据过滤。
安全防护:低功率X射线源,配备铅玻璃屏蔽罩与紧急停机功能,符合辐射安全标准。