全反射X射线荧光光谱仪（TXRF）

品名：全反射X射线荧光光谱仪（TXRF）

产品型号：S4 T-STAR

品牌：Bruker/布鲁克

原产地：德国

S4 T-STAR® 是一种多功能工具，用于痕量微量元素分析的高性能全反射X射线光谱仪.用于分析各种样品类型，包括悬浮液、粉末、纳米颗粒或薄膜。

制样简单，无需消解，而ICP则需要完全溶解的液体样品。

TXRF 光谱仪 S4 T-STAR® 提供

TXRF 运营成本极低，无需气体、冷却介质或复杂的实验室基础设施。

自动校准功能，基本无需后期维护

优化后的测试系统支持工业级24h不间断测试。

Bruker多样化的样品托盘和工具为用户提供了更多选择，可加快样品制备速度，降低样品污染风险。

参数配置：



参考标准:

GB/T24578-2024半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱仪

GB/T42360-2023 表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱仪

GB/T40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)测定硅片表面元素污染