工作原理

设备采用布拉格衍射原理：X射线管（如Cu靶，波长1.54Å）发射单色X射线，照射样品后产生衍射；测角仪同步旋转样品与探测器，记录不同角度（2θ）的衍射光强。通过分析衍射峰的位置（2θ值）与强度，结合PDF卡片库与Rietveld精修算法，确定物相组成、晶格常数及晶体取向，符合GB/T 33219-2016标准要求。

应用范围

该产品适用于材料科学领域分析金属、陶瓷、高分子材料的物相与晶体结构；地质勘探中矿物定性与定量分析；制药行业研究药物晶型与多晶型转变；半导体产业监控薄膜材料的应力与取向。其高精度与多功能设计，是高校、科研院所及企业的关键分析工具。

产品技术参数

X射线管：Cu靶（Kα，λ=1.5406Å），功率≤2kW

测角仪范围：2θ 0°～160°（连续扫描）

分辨率：0.01°（2θ）

扫描速度：0.01°～100°/分钟（可调）

探测器：闪烁计数器或半导体探测器

样品形态：粉末、薄膜、块体（需适配样品架）

数据输出：衍射图谱、物相列表、晶格参数

接口：USB 3.0、以太网、VGA

电源：AC 220V±10%，50Hz，功率≤2500W

工作环境：5～40℃，湿度≤85%RH

外形尺寸：1200×800×1500mm（台式）

产品特点

高精度物相分析：Cu靶X射线源与0.01°分辨率，精准鉴定微量物相（≥1%），支持复杂混合物分析。

多功能研究能力：可进行晶格参数精修、应力测定、织构分析，适配材料科学研究需求。

智能操作与数据库：内置PDF-4+物相卡片库，支持自动匹配与Rietveld精修，兼容第三方软件（如JADE、MDI Jade）。

稳定与易维护：封闭式光路设计，长期运行角度偏差≤0.02°，适合实验室与生产线环境。

合规性保障：符合GB/T 33219-2016《多晶体X射线衍射方法通则》及ISO 13767-2013标准，测量数据可直接用于科研论文与产品质量认证。