工作原理

AL-NP-5010采用X射线管激发样品，高能X射线照射样品表面，使原子内层电子跃迁，外层电子填补空位时释放特征X射线。能量色散检测器（如硅漂移探测器SDD）将X射线光子转换为电脉冲信号，通过多道分析器（MCA）记录能量与计数，结合标准曲线与算法，定性与定量分析元素种类及含量（如Na至U），符合GB/T 17359-2012标准要求。

应用范围

该产品适用于冶金行业检测金属合金成分（如钢、铝、铜）；地质领域分析矿石品位与土壤重金属（如Pb、Cd、As）；环保行业监测大气颗粒物、水体沉积物的污染元素；建材行业控制水泥、陶瓷的原料成分。其非破坏性检测支持研发阶段的材料筛选与生产线的在线质控，是质检机构、高校及工业企业的关键分析工具。

产品技术参数

元素检测范围：Na（11）～U（92）

检测限：1～100ppm（视元素而定）

分析时间：30～300秒（可调）

样品形态：固体、粉末、液体（需适配样品杯）

检测器：硅漂移探测器（SDD，分辨率≤140eV）

X射线管：铑靶（Rh）或银靶（Ag），功率≤50W

数据输出：定性谱图、定量浓度、统计报告

接口：USB 3.0、以太网、VGA

电源：AC 220V±10%，50Hz，功率≤800W

工作环境：5～40℃，湿度≤85%RH

外形尺寸：600×500×1400mm（台式）

产品特点

多元素快速分析：同时检测20余种元素，30秒内完成从Na到U的定性筛查。

高灵敏度与分辨率：SDD检测器实现轻元素（如Na、Mg）与痕量元素的精准检测。

智能软件与数据库：内置常见材料标准曲线库（如合金牌号、矿石类型），支持自动匹配与报告生成。

操作简便与安全：触控屏操作，封闭式X射线设计，符合GB 16797-2019辐射安全标准。

合规性保障：符合GB/T 17359-2012《微束分析 能谱法定量分析》及ISO 15632-2012标准，测量数据可直接用于产品质量认证与科研论文发表。