工作原理
FPTTZ-profilier采用多模态光学探测技术:白光干涉模式通过分析反射光干涉条纹的相位变化,获取亚纳米级垂直分辨率;激光三角测距模式利用激光束投射与传感器接收的位移关系,实现大范围快速形貌扫描;共聚焦成像模式则通过点扫描与针孔滤波技术,提升横向定位精度。设备内置自适应算法,可自动切换测量模式并融合多源数据,生成高保真三维点云图像。
应用范围
广泛应用于半导体行业(晶圆表面缺陷检测、芯片封装平整度分析)、材料科学(薄膜厚度测量、表面粗糙度表征)、精密机械(零件磨损评估、微纳结构加工质量检测)、生物医学(组织表面形貌分析、植入物适配性验证)及光学元件(透镜面型检测、镀膜层均匀性评估)等领域,满足科研与工业场景的多尺度检测需求。
产品技术参数
测量范围:0.1nm-10mm(垂直方向);横向分辨率:0.1μm;垂直分辨率:0.01nm(白光干涉模式);扫描速度:≥200μm/s;测量模式:白光干涉/激光三角/共聚焦;数据接口:USB3.0/GigE;工作温度:15-35℃;设备尺寸:480×350×300mm;重量:≤30kg。
产品特点
多模态融合技术,支持跨尺度(纳米-毫米级)三维形貌检测;
非接触式测量,避免样品损伤,适用于软质或易损材料;
智能化分析软件支持自动缺陷识别、粗糙度计算及三维可视化;
高动态范围与低噪声设计,适应复杂表面(如高反光、低对比度)检测;
模块化扩展接口,兼容偏振成像、光谱分析等附加功能。