工作原理

EDX-6000采用能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，通过X射线管激发样品中的原子，使其外层电子跃迁并释放特征X射线。高分辨率半导体探测器（如SDD）捕捉这些特征X射线的能量与强度，结合标准曲线与算法模型，对元素种类及含量进行定量分析。设备内置智能校正系统，可自动修正基体效应与矩阵干扰，确保检测结果准确可靠。

应用范围

该设备广泛适用于金属材料成分分析（如合金牌号鉴定）、土壤与水体重金属检测、矿石品位鉴定、水泥原料成分控制、电子产品RoHS指令符合性筛查等领域。典型应用包括：钢铁中Si/Mn/P/S含量测定、土壤中Pb/Cd/As污染评估、陶瓷原料成分分析、镀层厚度与元素分布检测等。

产品技术参数

元素检测范围：Na（11）~ U（92）

分析时间：30秒~300秒（可调）

检测限：1ppm~100ppm（视元素而定）

稳定性：RSD≤0.1%（24小时连续测试）

样品形态：支持固体、粉末、液体（需配套样品杯）

软件功能：自动定性定量分析、谱图解析、数据库管理（支持自定义标准曲线）

产品特点

多元素同步分析：可同时检测数十种元素，覆盖主量、微量及痕量成分，提升检测效率。

无损快速检测：无需制样或化学处理，直接对样品进行非破坏性分析，单次测试时间最短30秒。

智能软件系统：内置材料数据库与自动校正算法，支持一键式操作，降低技术门槛。

安全防护设计：符合GB/T 25480-2010辐射安全标准，配备多重屏蔽与联锁装置，保障操作人员安全。

灵活扩展性：可选配自动进样器、真空腔体（适用于轻元素检测）及小样品适配器，适配不同检测需求。