工作原理

设备基于布拉格衍射定律（nλ=2d sinθ）：X射线管发射特征波长（如Cu-Kα，λ=1.5406Å）的X射线，照射样品后产生衍射光束。高精度测角仪（θ-θ几何）旋转样品与探测器，记录不同角度（2θ）的衍射峰位置与强度。通过对比标准PDF卡片数据库，解析样品晶面间距（d值）、晶粒尺寸及相组成，实现物质结构的精准定性定量分析。

应用范围

适用于材料科学（金属/陶瓷/高分子材料相分析）、地质学（矿物成分鉴定）、制药（药物晶型控制）、半导体（外延层厚度测量）及新能源（锂电池正极材料结构表征）。尤其适合需要满足ASTM E816、ISO 4967等国际标准的场景，助力科研突破与产品质量控制。

产品技术参数

X射线源：Cu靶X射线管（功率≤3kW，可升级为Co/Mo靶）

测角仪精度：2θ重复性≤0.0001°，分辨率0.001°

探测器：LYNXEYE XE高速能量色散探测器（1.9°开口，信噪比≥5000:1）

扫描速度：最高1000°/min（快速扫描模式）

温度控制：样品台支持-196℃~1600℃（可选配高温/低温附件）

软件：DIFFRAC.SUITE（集成相位鉴定、晶粒尺寸计算、残余应力分析模块）

电源：AC220V±10% 50Hz，功耗≤3.5kW

尺寸/重量：1800×1200×2200mm / 1500kg（含主机与控制柜）

产品特点

高精度与稳定性：采用θ-θ几何测角仪与闭环伺服电机，2θ重复性≤0.0001°，长期运行零点漂移≤0.001°/天，确保数据可靠性。

多功能与扩展性：支持粉末衍射、薄膜测量、残余应力分析等多种模式；可选配原位高温/低温附件、微区衍射模块（最小光斑≤0.1mm）。

智能化操作：DIFFRAC.SUITE软件集成自动相位鉴定与数据报告生成功能，支持与ICDD PDF-4数据库无缝对接；一键式校准与故障诊断降低操作门槛。

耐用与低维护设计：全金属光路结构，防振动设计适应实验室环境；X射线管寿命≥5000小时，自动衰减功能延长关键部件使用周期。

合规与认证：符合CE、RoHS及中国计量认证（CMA）要求，检测报告具备法律效力，适配全球科研与工业标准。

用户友好界面：15英寸触控屏集成中文操作界面，支持远程控制与数据云存储；模块化设计允许用户根据需求升级配置（如增加纹理分析功能）。