扫描电子显微镜
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扫描电子显微镜
来源:惠州市华高仪器设备有限公司
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简介: JCM-7000是日本电子(JEOL)推出的新一代台式扫描电子显微镜,集成高分辨率成像与多功能分析功能,可观察样品表面微米至纳米级形貌,并支持元素成分分析,广泛应用于材料研发、失效分析、半导体检测及生物医学领域,是科研与工业质量控制的核心表征工具。
产品详细

 日本电子JEOL


工作原理

设备通过电子枪发射高能电子束,经电磁透镜聚焦后扫描样品表面。电子与样品相互作用产生二次电子(SE)、背散射电子(BSE)及特征X射线。SE信号反映表面形貌(分辨率达3nm),BSE信号揭示成分差异,X射线经能谱仪(EDS)分析可实现元素定性定量(检测范围B-U)。



应用范围

适用于金属材料断口分析、半导体芯片缺陷定位、陶瓷材料晶界观察、生物样本超微结构成像及地质矿物成分鉴定。典型场景包括:新材料研发中的形貌表征、产品质量失效分析、学术研究中的微观机制探索,助力用户深入解析样品结构与性能关系。



产品技术参数


分辨率:SE模式3nm(30kV),BSE模式4nm(30kV)

加速电压:0.5kV-30kV连续可调

放大倍数:10倍-100,000倍

样品室:φ120mm(直径)×50mm(高度),支持倾斜观察(0-90°)

EDS接口:标配硅漂移探测器(SDD),元素检测范围B-U

成像模式:SE/BSE/混合模式,支持实时图像拼接

真空系统:无油机械泵+涡轮分子泵,抽真空时间≤2分钟

电源:AC 220V±10%,50Hz,功率≤1500W


产品特点


高分辨率与低电压成像:3nm分辨率可清晰观察纳米级结构,低电压(0.5kV)模式减少样品充电效应,适配绝缘材料(如陶瓷、生物样本)。

快速抽真空与操作简便:2分钟内完成抽真空,触控屏界面支持一键式参数调节,无需专业培训即可上手。

多功能分析集成:标配EDS能谱仪,支持元素面分布与点分析,满足成分与形貌同步表征需求。

紧凑设计与低维护成本:台式结构占地面积小(0.6㎡),关键部件免维护设计,适合实验室与生产线快速部署。

智能图像处理:内置自动对焦、亮度调节及图像拼接功能,支持导出TIFF/JPEG格式,兼容第三方分析软件(如ImageJ)。

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标签:扫描电子显微镜,物理检测设备
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