激光粒度分析仪
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激光粒度分析仪
来源:郑州兆为仪器设备有限公司
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简介: 郑州兆为仪器设备有限公司研发的AW-5200-H激光粒度分析仪,是一款专为粉尘颗粒物粒度检测设计的高精度分析仪器。该产品采用先进的激光散射技术,结合米氏散射理论,能够快速、准确地测量粉尘颗粒物的粒度分布,为用户提供可靠的粒度分析数据。其自动化程度高、操作简便的特点,使其广泛应用于环保、制药、食品、化工等领域,成为颗粒物研究及质量控制的重要工具。
产品详细

 兆为仪器


工作原理

AW-5200-H激光粒度分析仪基于激光散射原理工作。当激光束照射到样品池中的粉尘颗粒时,颗粒会使激光发生散射。散射光的角度与颗粒的大小直接相关,大颗粒产生的散射光角度小,而小颗粒产生的散射光角度大。仪器通过检测不同角度的散射光强度,利用米氏散射理论进行计算,从而得到粉尘颗粒物的粒度分布。这种方法具有测量速度快、精度高、重复性好等优点,能够确保测量结果的准确性和可靠性。



应用范围


环保监测:用于大气、工业排放等环境中的粉尘颗粒物粒度检测,评估空气质量及污染状况。

制药行业:检测药物粉末、颗粒的粒度分布,确保药品质量及疗效。

食品工业:分析食品添加剂、原料颗粒的粒度,优化生产工艺,提升产品质量。

化工领域:监测催化剂、颜料等化工产品的粒度,确保产品性能及稳定性。

科研实验:支持材料科学、颗粒学等科研领域的研究,提供精准的粒度分析数据。

质量控制:在生产过程中,对颗粒物产品进行粒度检测,确保产品符合质量标准。


产品技术参数


参数项 规格说明

测量原理 激光散射法(米氏散射理论)

测量范围 0.1μm - 1000μm(可根据需求扩展)

重复性误差 ≤1%(国家标准物质)

准确性误差 ≤1%(国家标准物质)

检测速度 快速检测,短时间内完成样品分析

激光源 进口半导体激光器,波长稳定,寿命长

接口类型 支持USB、RS-232等数据接口,便于与计算机连接

电源要求 220V AC±10%,适应标准电源环境

操作界面 配备彩色触摸屏,支持中文/英文界面,触控操作,易于使用

数据输出 支持多种数据格式输出,便于后续分析与管理

防护等级 IP52(适应一般实验室环境)

工作温度 5℃~35℃(适应室内环境)



产品特点


高精度测量:采用激光散射技术及米氏散射理论,确保粒度测量的准确性,满足精细分析需求。

宽测量范围:覆盖0.1μm至1000μm的粒度范围,适用于多种粉尘颗粒物的检测。

快速检测:检测速度快,短时间内完成样品分析,提高检测效率。

自动化程度高:支持自动校准、自动对中、自动清洗等功能,减少人为操作误差。

易于操作:配备直观的操作界面和简洁的维护流程,降低使用门槛和维护成本。

数据管理与追溯:支持数据存储与传输,便于后续分析与管理,满足数据追溯需求。

高稳定性与耐用性:采用优质材料制造,确保设备长期稳定运行,延长使用寿命。

合规性:符合相关国家标准及行业标准,满足计量认证及质量控制需求。

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标签:激光粒度分析仪,环境检测设备
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