XAU-X荧光光谱分析仪、镀层测厚仪、膜厚仪
XAU是一款针对RoHS、卤素检测分析而开发出来的高集成光谱分析仪；被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用；
一、产品优势：
XAU是一款针对RoHS、卤素检测分析而开发出来的高集成光谱分析仪；
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用；
1. 装配Si-PIN半导体探测器，大大提高了检测范围及精度；
2. 人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作；
3. RoHS、卤素有害元素检测，最低检出限可达2ppm；
4. 配有微光聚集技术，最近测距光斑扩散度小于10%；
5. 采用高清晰摄像定位系统，样品观察清晰，定位准确；
6. 核心配件高集成模块化设计,结构紧凑,避免相互电磁干扰,提高了仪器的检出限,降低了仪器的故障率；
7. 下照式设计，测样快捷；
8. 一键RoHS检测，自动识别材料类别并自动匹配程式，实现一键分析。
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京公网安备 11010702002294号
