工作原理：

通过微聚焦X射线管发射高能X射线，激发镀层元素产生特征荧光X射线，比例接收器采集荧光信号并转换为计数率，结合基本参数法（FP算法）计算镀层厚度及元素含量。

应用范围：

覆盖电子制造、汽车零部件、航空航天及珠宝加工等领域。

产品技术参数：

配备4个电动切换准直器（直径0.1mm、0.2mm及方形0.05×0.05mm、0.03×0.2mm），支持3个基本滤片组合，测量距离0-27.5mm可调。设备采用底部C型开槽设计，最大支持174mm试样高度，配备手动XY工作台（移动范围50×50mm），可实时定位微小工件。其防护等级IP40，符合德国X射线条例要求，软件支持WinFTM® V.6，可同步分析四层镀层、五种元素或两种离子浓度。

产品特点：

支持无标准片校准模式，降低检测成本；高计数率比例接收器确保测量效率；兼容大尺寸样品（如印刷线路板）与微小结构（如连接器触点）；具备统计及SPC功能，可生成详细测量报告。