简介： CT是计算机断层成像技术的简称 ，它能在对检测物体无损伤条件下，以二维断层图像或三维立体图像的形式 ，在不破坏样品的情况下，利用X射线对物体进行扫描，清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部 结构、组成 、材质及缺损状况。纳米、微米CT适用于小尺寸样品高分辨率的检测；工业CT适合大尺寸样品检测。