镀层测厚仪
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镀层测厚仪
来源:苏州实谱仪器有限公司
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简介: 苏州实谱仪器有限公司推出的T-350M镀层测厚仪是一款基于X射线荧光光谱技术(XRF)的高精度无损检测设备,专为金属镀层厚度及成分分析设计。其核心工作原理是通过微聚焦X射线管激发样品表面,使镀层中的元素释放特征X射线荧光,探测器(如SDD或Si-Pin)捕捉信号后,结合增强型FP算法计算镀层厚度及元素含量。该技术无需破坏样品,支持多元素同步分析,可穿透表面氧化层直接测量基材镀层厚度,测量范围覆盖0.01-100μm,精度达±1%,分辨率优于0.001μm。
产品详细

实谱仪器


工作原理:

通过微聚焦X射线管激发样品表面,使镀层中的元素释放特征X射线荧光,探测器(如SDD或Si-Pin)捕捉信号后,结合增强型FP算法计算镀层厚度及元素含量。


应用范围:

覆盖电子制造、汽车工业、五金卫浴及质检领域。


产品技术参数:

配备0-50kV智能程控高压系统,支持φ0.3-φ3mm多准直器自动切换,样品观察采用工业CCD高清摄像头,光学放大30倍。设备内置多维散热系统与多重辐射安全防护,操作环境温湿度为0-30℃、湿度≤70%,工作电源为交流220V±5V。分析软件可同时解析5层镀层、24种元素,支持一键导出PDF/Excel报告,涵盖数据、图像及统计图表。


产品特点:

采用下照式结构,适配超微小样品与大工件;配备超清摄像头与舱内照明,确保测试位置精准;最短10秒内输出结果,大幅提升检测效率;支持数据追溯与统计分析,便于企业质量管理。

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标签:镀层测厚仪,测厚仪
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