工作原理：

通过微型X射线管发射高能X射线，照射样品表面后激发镀层与基材的原子特征荧光。检测系统捕获荧光信号并转换为电信号，结合内置算法分析镀层厚度及元素组成。

应用范围：

电镀行业：监控镀金、镀银、镀镍等贵金属镀层厚度，确保符合行业标准；

电子制造：检测PCB板镀铜、镀锡层厚度，优化信号传输性能；

珠宝加工：测量首饰镀层厚度，保障防腐蚀与美观性；

汽车零部件：评估发动机、变速箱等部件的镀锌、镀铬层均匀性。

产品技术参数：

测量范围：0.005μm至50μm（精度±5%）；

分辨率：0.001μm（金/银等贵金属镀层）；

检测元素：覆盖Ti至U元素周期表，支持多元素同步分析；

检测时间：60秒内完成单点测量；

显示：10.4英寸高分辨率液晶屏，支持中英文切换；

数据接口：USB 3.0/以太网，兼容实验室LIMS系统；

防护等级：铅壳防护+自动安全门，辐射剂量<1μSv/h。

产品特点：

高精度与稳定性：采用SDD探测器，能量分辨率140eV，重复性误差≤1%；

智能化操作：内置多层镀层解析算法，支持一键生成检测报告；

模块化设计：可选配小光斑探头（直径0.1mm），适应微小部件检测；

安全防护：配备紧急停止按钮与辐射剂量监测，确保操作人员安全。