工作原理：

该仪器基于能量色散X射线荧光光谱技术（EDXRF），通过高压X射线管激发样品表面，使被测元素原子内层电子跃迁并释放特征X射线。仪器采用高分辨率Si-PIN探测器捕捉特征射线能量，结合多变量非线性回归算法，同步实现元素含量定量分析与厚度计算。

应用范围：

产品覆盖电子电器、汽车制造、金属加工及环保检测四大领域。

产品技术参数：

元素检测范围：硫（S）至铀（U），重点元素检出限≤2ppm；

厚度测量范围：0.01-10mm（金属），精度±0.005mm；

测量时间：30-180秒可调；

探测器类型：原装电致冷高性能Si-PIN探测器；

激发源：40kV/50mA X射线管，6档滤光片自动切换；

样品腔尺寸：Φ450×90mm，支持不规则形状样品；

防护等级：全封闭机箱设计，辐射剂量≤1μSv/h。

产品特点：

一机双能：同步完成RoHS元素检测与金属厚度分析，提升检测效率；

智能校准：内置基体效应校正模型，自动匹配金属材质参数；

数据管理：支持20,000组数据存储，可导出至PC端生成分析报告；

安全防护：三重安全联锁装置，配备紧急制动按钮与红外感应防护。