数显量薄膜测厚仪
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数显量薄膜测厚仪
来源:北京丹青华瑞科贸有限责任公司
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简介: 北京丹青华瑞科贸有限责任公司代理的瑞士Sylvac薄膜测厚仪,是一款专为软硬材料薄膜厚度检测设计的高精度测量设备,广泛应用于电子、包装、涂层及材料研发等领域,助力企业实现精准质量控制。
产品详细

SYLVAC


工作原理:

通过精密测头与薄膜表面接触,施加恒定或可调的测量压力(如0.06N至00.5N可选),将测头位移转化为电信号,经高精度传感器处理后显示厚度值。部分型号支持非接触式激光测厚模块(可选配),通过激光三角反射原理实现非破坏性测量,适应透明或易损薄膜需求。


应用范围:

覆盖汽车制造、航空航天、电子元件、精密机械等行业,为零部件尺寸检测、薄膜厚度控制提供可靠解决方案。


产品技术参数:

测量范围:0-2毫米(标准型),可选配扩展至0-10毫米。

分辨率:0.1微米(接触式),激光测厚模块分辨率达0.5微米。

重复精度:±00.3微米(接触式),±0.5微米(激光式)。

测量压力:0.06N至0.5N可调,适应不同材料硬度。

接口:支持RS232、USB及蓝牙数据传输,可连接计算机或打印机。

防护等级:IP54(标准型),IP67(可选防水型)。


产品特点:

高精度与稳定性:采用纳米级传感器与温度补偿技术,确保复杂环境下的测量一致性。

智能化操作:配备大尺寸液晶屏,支持中文菜单、统计功能(平均值、标准差)及公差报警。

便携性与耐用性:手持式设计重量仅500g,电池续航超100小时,外壳采用防滑耐磨材质。

数据管理:支持实时显示、存储1000组数据,并可通过软件生成质量报告。

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标签:数显量薄膜测厚仪,测厚仪
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