高分辨率微纳米无损检测设备
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高分辨率微纳米无损检测设备
来源:杭州之量科技有限公司
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简介: 杭州之量科技有限公司的工业CT EasyTom高分辨率微纳米无损检测设备是一款集微纳米级成像与多功能检测于一体的进口设备,基于X射线断层扫描技术实现三维结构可视化。其工作原理通过微焦点X射线源发射锥束射线穿透样品,射线在材料内部因密度差异发生衰减,平板探测器接收信号后由计算机通过滤波反投影算法重建三维体数据集。设备支持微米与纳米双焦点切换,微米管最大电压230kV、功率200W,分辨率达2μm;纳米管最大电压160kV、功率16W,分辨率可达0.4μm,可穿透30mm钢板并清晰显示内部裂纹、气孔等缺陷。
产品详细

 RX Solutions


工作原理:

基于X射线断层扫描技术实现三维结构可视化。其工作原理通过微焦点X射线源发射锥束射线穿透样品,射线在材料内部因密度差异发生衰减,平板探测器接收信号后由计算机通过滤波反投影算法重建三维体数据集。


应用范围:

该设备广泛应用于航空航天、电子制造及材料研发领域。


产品技术参数:

设备采用43×43cm大尺寸平板探测器,像素间距139μm,动态范围≥10000:1。机械系统配备7轴高精度花岗岩运动平台,定位精度±0.5μm,扫描速度6秒/层。


产品特点:

1. 搭载X-Act软件,支持自动缺陷标注与CAD模型比对;

2. 双射线源配置可一键切换,兼顾高分辨率与高穿透力;

3. 开放式架构支持原位拉伸、压缩等力学测试;

4. 30天快速交付,整机质保1年,提供终身软件升级服务。

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标签:高分辨率微纳米无损检测设备,无损检测设备
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