超声扫描显微镜无损检测设备
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超声扫描显微镜无损检测设备
来源:上海思为仪器制造有限公司
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简介: 上海思为仪器制造有限公司的YTS500超声扫描显微镜无损检测设备是一款专为高精度工业检测设计的先进系统,广泛应用于半导体、电子元器件及复合材料领域。其核心工作原理基于水浸式超声C扫描技术,通过高频超声波(15-50MHz)在耦合介质(水或去离子水)中传播,当超声波遇到材料内部缺陷(如分层、空洞、裂纹)时,因界面声阻抗差异发生反射,换能器接收反射信号并转化为数字图像。设备支持A/B/C/T扫描及断层扫描模式,可实现多层材料的三维成像,分辨率高达1μm,重复定位精度达±0.01mm,确保微米级缺陷的精准识别。
产品详细

上海思为


工作原理:

基于水浸式超声C扫描技术,通过高频超声波(15-50MHz)在耦合介质(水或去离子水)中传播,当超声波遇到材料内部缺陷(如分层、空洞、裂纹)时,因界面声阻抗差异发生反射,换能器接收反射信号并转化为数字图像。


应用范围:

覆盖半导体封装、低压电器焊接、金刚石复合材料及水冷板散热器检测。在半导体领域,可检测芯片封装分层、键合空洞等缺陷;在电子制造中,适用于焊接钎着率分析(如银触点焊接质量);在复合材料领域,可测量金刚石厚度、检测焊接缺陷。


产品技术参数:

YTS500具备260mm×100mm×50mm手动扫描范围与260mm×25mm×50mm自动扫描区域,最大扫描速度300mm/s,典型扫描耗时≤45秒(10mm×10mm区域)。主机尺寸800×600×1300mm,重量150kg,工作温度20-35℃,湿度≤50%RH,电源220V±10%/50Hz。


产品特点:

系统内置权限分级管理(操作工/工艺工程师模式),支持探头快速切换与强度/相位检测;软件具备缺陷尺寸自动统计功能,可导出标准格式报告;提供非标定制服务,包括夹具设计、检测标准定制及ODM/OEM合作。

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标签:超声扫描显微镜无损检测设备,无损检测设备
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