设备类型与应用

基材、膜片平整度张力测量仪

本设备主要应用于检测铜箔、铝箔、隔膜等基材的平整度检测。在额定张力下测量基材横截面的高度差△H，松紧边和波浪纹，将这些特征量化出来，让使用者能更好判断基材的优劣。

张力控制系统原理

半自动--配重块张力控制:

使用配重块磁条进行配重，配重磁条设有多种不同重量的规格，可根据不同的工艺需求叠加上不同重量的配重磁条。

A.配重块手动夹带座(标配)

对于膜宽比较小的膜片(≤1000mm)，可只安装此夹带座便可;加装配重手动夹带座，方便夹带，保证膜片张力的均匀性。

B.配重块自动装配(选配)

对于膜宽比较大的膜片(>1000mm)，由于膜片比较宽，同时配重块也很长，操作人员不配重块好操作，易造成夹带不匀，容易起褶，影响测量型材精准性，故开发了配重块自动夹带装置。

测量原理

量化因素:

1)设定相应膜宽的张力值/配重量，拉伸铜箔/铝箔/隔离膜基材;

2)通过量化支撑基材两辊的间距来量化基材张力(默认为1500mm)

3)选择测量系统;

第一组测量系统(标配):

利用激光位移传感器对基材进行扫描，绘制出基材的轮廓曲线，检测出材料问题点的位置，并计算出被测基材问题点的一个高度差，标记出位置;

可在软件操作界面设置基材高度差范围，超出高度差处标为坏品，并在软件操作界面上显示出坏品的起点、终点位置。