X-RAY射线面密度测量仪

X-RAY射线面密度测量仪，广泛应用于锂电池正/负极极片、薄膜、膜片、基材、塑料、橡胶、纸张、非涂碳料的负极的面密度测量等领域。X射线的能量由内部高稳定性高压电源决定，不会随着时间衰减，保证测量的长期稳定性。同时，X射线，其能量相对较低，对周围环境的辐射剂量小，不需要申请环评。

锂电池极片、薄膜、基材、塑料、橡胶、纸张

测量原理

利用射线作用于被测物体后，射线将会被吸收、反射、散射一部分，从而导致透射物体后的射线强度相对入射前的射线强度有一定的衰减。

其衰减比例与被测物体的重量或面密度成负指数关系。通过测量透射被测物体前后的射线强度值，即可推算出极片重量或面密度。

主要配置

大理石支架:升级式射线盒固定方式

无横向挠度变形，源盒和传感器间距稳定，同步性高度一致

出色的防辐射效果

相比于国内其他厂家，设备扫描速度可以达到20m/min

20m/min有效扫描速度

离设备机壳外10cm处测量，其辐射都<1uSv/h.达到国家豁免标准;

极片高度方向波动对测量精度影响小

我司设备具有特殊装置减轻极片离源盒距离波动对测量精度的影响，极片离源盒距离波动≤±2mm内，影响测量误差≤0.33mg/m2.