SCQcscan-1 手动C成像扫查器
手动C成像扫查器SCQcscan-1扫查器可以实现带有位置信息反馈的XY两轴自由滑移运动，可以配套带有两编码器接口的超声仪器使用，配合不同探头适用于用于平板类金属、
复合材料接触式C成像探伤。
产品介绍
手动C成像扫查器SCQcscan-1扫查器可以实现带有位置信息反馈的XY两轴自由滑移运动，可以配套带有两编码器接口的超声仪器使用，配合不同探头适用于用于平板类金属、复合材料接触式C成像探伤。
功能特点
XY两轴分辨率可选，最高为0.1mm/step。
根据需要可以选择磁性或者真空吸附的底座以适应不同材料需要。
该扫查器配合本公司的CTS-1008plus仪器、CTS-04PC超声卡可形成完整的超声成像检测系统。
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京公网安备 11010702002294号
