变频便携式X射线DR成像系统(AL-DR-250B)
	
	变频便携式X射线DR成像系统(AL-DR-250B)是一款集多种先进技术于一体的无损检测设备,具备强大的穿透能力和广泛的检测范围。该系统采用变频式X光机,最大能量可达320kV,其他可选配型号包括100kV、160kV、200kV和250kV。系统配备非晶硅数字平板探测器,专为变频X射线机定制,有效成像范围为13×13cm,像素间距85μm,空间分辨率为4LP/mm,A/D转换为16位。
	
	系统性能及特点
	
	◆穿透能力强,能检测样品范围更广
	
	◆成本低
	
	◆友好用户界面,操作简单
	
	◆可轻松连接到三脚架或定制的固定工具上
	
	◆不含有害或危险物质,无需担心运输问题。
	
	◆最大能量:320kV
	
	◆其他可选配型号为100kV,160kV,200kV,250kV等
	
	◆管电流:5mA
	
	◆焦点尺寸2.5mm x 2.5mm
	
	◆射线辐射角度:40°
	
	◆灵敏度:≤1.5%
	
	◆探测器类型:非晶硅(专为变频X射线机定制)
	
	◆探测器有效成像范围:13x13cm
	
	◆探测器像素间距:85μm
	
	◆空间分辨率:4LP/mm
	
	◆A/D转换:16位
	
	系统组成
	
	◆变频式X光机
	
	◆数字平板探测器
	
	◆图像处理系统
	
	◆夹具套装
	
	软件主要功能
	
	◆尺寸测量、图片存储、图片查询、图像放大、缩小
	
	◆伪彩色、灰度级变换、亮度/对比度调节
	
	◆图像增强、图像锐化
	
	◆图像打印、用户管理、参数设定、退出系统等
	
	◆软件环境windows7
	
	◆具有多幅图像的存储和调出功能,图像可以保存
	
	◆对被测工件的缺陷几何测量功能
	
	◆窗口窗位技术
	
	◆边缘增强及负像功能