覆层测厚仪ST180
ST180便携式覆层测厚仪，集成了磁性和涡流两种测厚方法，选择相应测头，可以快速、无损伤、精密地进行涂层、镀层、薄膜厚度的测量。既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。
一、概述
ST180便携式覆层测厚仪，集成了磁性和涡流两种测厚方法，选择相应测头，可以快速、无损伤、精密地进行涂层、镀层、薄膜厚度的测量。既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。
二、技术参数
三、主要功能
有十种测头类型可供选择，测头接触部件镀硬铬或为红宝石，经久耐用；
通过选择相应的测头，既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；
具有测头零点校准、一点校准、两点校准功能, 并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
具有测量状态提示功能；
有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；
有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量；
具有自动休眠、自动关机等节电功能；
带有1通讯接口，可将测量值传输至PC机。
可选择配备微机软件，具有传输测量结果、测值存储管理、测值统计分析、打印测值报告等丰富功能；
采用
铝制外壳，小巧、便携、坚实耐用，适用于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰。
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京公网安备 11010702002294号
