场发射透射电子显微镜
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场发射透射电子显微镜
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简介： JEM-2100F 应用广泛，从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200KV场发射透射电镜JEM-2100F，不仅可实现超高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪，轻松实现各种分析功能。
工作原理 技术参数 选型原则 应用案例 设备结构
    JEM2100用于样品的形貌、粒径、分散性等相关信息，同时还可通过明场像、暗场像对样品的质厚衬度像、衍衬像进行进一步的表征分析。对样品组织结构进行纳米尺度的微分析。高分辨晶格条纹像、选区电子衍射、会聚束电子衍射等。对纳米级的微区或晶粒的进行成分分析，可选择性的对样品进行点线面能谱扫描，获得元素在样品不同区域的分布情况。
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