简介： Xstress 3000是先进的X射线应力仪，采用固态线性探测器技术，可以有效准确的测量晶体材料的残余应力，与之配套的XTronic软件，能实现直线和椭圆拟合数据、Dolle-Hauk、以及三轴应力测试方法。还包括多种高级拟合函数：如抛物线法、高斯法、皮尔森法、柯西法、中心法、重心法、中心重心法。峰强、积分宽度、半高宽以及ψ点位的图形展示提供了详实易懂的测量结果。通过PROTO 8818-V3能实现对材料表面抛光，去掉表面干扰层，获得更真实的应力结果，还能对材料进行剥层，获得沿深度方向的残余应力。