手持式镀层测厚仪是一种光谱分析仪，手持式金属分析仪体积小重量轻，方便携带，适合现场进行检测分析。具有快速测试，分析准确，质量耐用等优势，适合于金属回收，金属冶炼，金属制品，合金材料，
有色金属，三元催化，
锂电池回收，不锈钢行业，
铜合金行业等。
1、手持式镀层测厚仪 便携式XRF镀层膜厚仪适用于各种纯铜、铸造
铜合金、铜合金材料中的铜、铁、
锡、
锌、
铅、
锰、
镍、磷、硅等元素测定;
2、采用新有色金属分析技术，为有色金属(冶炼)加工企业而量身设定，可直接分析出铜合金中铜的全含量;
3、采用精密触摸键盘，32键音响提示，设计多种快捷功能键，操作*为简便;
4、采用微机控制及数据处理，含量数显直读，仪器内置微型打印机，结果自动打印(包括日期、元素符号、含量、吸光度);
5、仪器设计合理，变更单色光源、比色杯、,称样量可扩展测量元素和扩大含量范围。
手持式镀层测厚仪是一种XRF光谱分析技术，X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子，出现壳层空穴，当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时，就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。
仪器特点：
——便携、高效、准确可以在质量控制、材料分类、合金鉴别、事故调查等现场应用。
——选配小点瞄准模式，可检测被检测面积较小的样品，如：焊点、焊缝。
——高性能硅漂(SDD)探测器(25平方毫米)，即可分析Mg、Al、Si、P等轻元素。
应用特点：
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京公网安备 11010702002294号
