简介： 设备主要利用涡电流测试原理，非接触测试半导体材料，石墨烯，透明导电膜，碳纳米管，金属等材料的方阻（电阻率）。可实现单点测试，亦可以实现面扫描的测试功能，可用于材料研发及工艺的监测及质量控制。本仪器为非接触，非损伤测试，具有测试速度快，重复性佳，测试敏感性高，可以直接测试产品片。