工作原理

C1202HR采用激光三角反射法与高精度CMOS传感器，通过发射特定波长的激光束照射薄膜表面，反射光经光学透镜组聚焦至CMOS阵列，系统根据光斑位移量与薄膜折射率，结合智能算法实时计算厚度值。非接触式测量避免了对柔软或易损薄膜的物理压迫，同时消除接触式测量的摩擦误差，确保测量结果的真实性与重复性。

应用范围

覆盖各类薄膜材料的厚度检测场景：锂离子电池隔膜/极片涂层厚度验证、半导体晶圆光刻胶厚度分析、光学镀膜反射层厚度筛查、食品包装复合膜层间厚度一致性检测等。其0.1μm分辨率与±0.5μm精度，适配实验室研发测试与生产线在线抽检双重需求，尤其适合高速运动薄膜或曲面薄膜的动态测量。

技术参数

测量范围0-2000μm（可定制扩展），分辨率0.1μm，精度±0.5μm；激光波长650nm（可见红光），测量频率最高10kHz；工作距离10-30mm可调，支持垂直/倾斜多角度测量；配备7英寸触控屏与以太网/RS485数据接口，支持MES/ERP系统对接；防护等级IP54，工作温度范围0-50℃。

产品特点

德国进口光学组件经精密校准，抗环境光干扰能力强；智能温度补偿算法自动修正热膨胀误差，确保全天候稳定性；动态测量模式下可追踪薄膜运动速度达50m/min，数据输出延迟＜1ms；一键标定与自动聚焦功能简化操作流程；模块化设计支持多探头同步测量，满足复杂层叠结构的厚度分析需求，助力企业提升产品良率与工艺控制水平。