Filmetrics F20 单点光学膜厚测量仪
简介
Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪是一款先进的膜厚测量系统，能够测量从1nm到10mm的膜厚，并且可以同时测量折射率、反射率和穿透率。适用于单层或多层膜，无论是在平面还是弯曲表面，光斑最小可达20微米。F20具有模块化设计，易于安装和操作，通过USB连接电脑后，能在数秒内得出测量结果。其适用范围广泛，几乎涵盖了所有光滑、半透明或低吸收系数的薄膜材料，包括各种电介质、
半导体材料等。该设备配备用户友好的软件界面，提供24小时电话、电子邮件和在线支持，确保用户能够高效准确地进行膜厚测量。
Filmetrics F20 单点光学膜厚测量仪产品介绍：
无论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，Filmetrics F20 单点光学膜厚测量仪都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点，Filmetrics F20 单点光学膜厚测量仪适用于各种应用。
Filmetrics F20 单点光学膜厚测量仪产品特点：
非接触测量：避免损伤薄膜，适用于脆弱或敏感材料；
高精度与宽量程&：垂直分辨率达纳米级，可测厚度范围从1nm至3mm；
多场景适用性：基本上光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。
测量速度快：配置完成后，数秒内即可完成测量。
Filmetrics F20 单点光学膜厚测量仪测量原理：
当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率，可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度（越多的震荡代表越大的厚度），同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。
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