工作原理

光学成像系统：

无限远光学设计：物镜与目镜间采用无限远光路，消除像差，提升成像清晰度与边缘锐度。

多倍率物镜：配置 5X、10x、20x、50x、100x 等不同倍率物镜，支持快速切换，适应不同放大需求。

柯勒照明：通过聚光镜与孔径光阑调节，实现均匀、可调的照明强度，优化观察效果。

图像采集与处理：

高分辨率CCD传感器：采集显微图像并传输至计算机，支持实时显示与存储（分辨率 1920×1080）。

专业测量软件：

图像处理：自动去噪、增强对比度、边缘锐化，提升测量准确性。

尺寸测量：支持点、线、圆、角度、面积等几何参数测量，精度达 ±0.1μm。

形貌分析：通过灰度值分布或轮廓提取，分析表面粗糙度、孔隙率等特征。

观察模式切换：

明场观察：适用于透明或半透明样品（如金属薄片、塑料薄膜）的表面形貌分析。

暗场观察：通过环形光阑遮挡中心光，突出样品边缘与表面缺陷（如划痕、裂纹）。

应用范围

工业检测：

电子行业：PCB板焊点质量检测、芯片引脚间距测量、SMT元件尺寸验证。

机械制造：精密零件（齿轮、轴承、螺纹）的尺寸公差检测与表面缺陷分析。

冶金行业：金属材料晶粒度评级、夹杂物形态与分布观察。

材料分析：

复合材料：纤维排列方向、层间结合强度评估。

涂层材料：涂层厚度均匀性检测、孔隙率计算。

生物材料：细胞形态观察（需配套生物显微镜模块）。

质量控制与研发：

失效分析：通过断口形貌观察，定位材料断裂原因（如疲劳、腐蚀）。

新产品开发：验证微纳结构设计与工艺参数优化效果。

教育科研：

高校实验室：材料科学、机械工程等专业教学演示与实验研究。

科研院所：纳米材料、微电子器件等前沿领域的基础研究。

产品技术参数

参数项 XJP-6A 技术指标

光学系统 无限远色差校正光学系统

物镜倍率 5x、10x、20x、50x、100x（可选配200x）

目镜倍率 10x（宽视野目镜，视场直径20mm）

总放大倍数 50x-1000x（连续变倍）

分辨率 0.1μm（50x物镜下）

照明方式 柯勒照明，亮度可调（LED光源，寿命≥50000h）

观察模式 明场/暗场切换

图像传感器 1/2.5英寸彩色CCD，分辨率1920×1080

测量软件 支持点、线、圆、角度、面积等几何参数测量

数据输出 USB 2.0接口，支持JPG/BMP图像存储与Excel报告生成

载物台 机械移动式载物台（行程50×50mm，精度0.01mm）

电源要求 AC 220V±10%, 50Hz, 50W

主机尺寸 450×320×600 mm（长×宽×高）

主机重量 约25kg

产品特点

高精度与高清晰度：

无限远光学系统消除像差，搭配高分辨率CCD，确保图像边缘锐利、细节清晰。

测量精度达 ±0.1μm，满足工业级精密检测需求。

多功能与易操作性：

支持明场/暗场观察模式切换，适应不同样品类型。

专业测量软件界面友好，一键完成图像采集、处理与报告生成。

稳定可靠：

LED光源寿命长（≥50000h），无需频繁更换，降低维护成本。

机械载物台采用精密导轨，移动平稳，定位精准。

人性化设计：

紧凑型机身设计，节省实验室空间。

防静电涂层处理，避免样品吸附灰尘，提升观察效果。

扩展性强：

可选配偏光模块、荧光模块、金相分析软件等，扩展应用范围。

支持与第三方图像处理软件（如ImageJ）兼容，满足个性化需求。