工作原理：

SJ-2100采用接触式测量原理，内置高精度压电陶瓷传感器驱动金刚石触针（针尖半径0.5μm）沿被测表面匀速滑动。触针随表面微观几何形貌产生垂直位移，位移信号经纳米级位移传感器转换为电信号后，由32位高速DSP处理器进行实时滤波、放大及参数计算。仪器依据ISO 4287、ISO 25178双标准算法，从触针位移曲线中提取Ra、Rz、Sq、Sa等20余项二维/三维粗糙度参数，并通过3.5英寸高清彩色液晶屏同步显示三维形貌图与参数曲线，确保数据精准可溯。

应用范围：

广泛应用于精密机械加工（轴承、齿轮、模具表面光洁度检测）、半导体制造（晶圆表面粗糙度控制、光刻胶涂层均匀性分析）、航空航天（航空发动机叶片涂层质量验证、涡轮盘微结构表征）、汽车制造（发动机缸体、变速器壳体加工质量评估）及生物医疗（人工关节表面处理效果检测）等领域。支持超光滑表面（Ra<0.001μm）至粗糙加工面（Ra>10μm）的全范围检测，可替代传统触针式轮廓仪、光学干涉仪完成生产线快速筛查与实验室精密分析。

产品技术参数：

测量参数：Ra、Rz、Rq、Rt、Sq、Sz等22项国际标准参数；垂直分辨率：0.001μm；水平分辨率：0.1μm；测量范围：0-160μm；取样长度：0.08-10mm可调；驱动速度：0.05-2mm/s；重复性：≤0.3%；显示方式：3.5英寸TFT彩色液晶屏，支持三维形貌重建与多参数对比分析；数据存储：30000组测量数据，支持USB/Wi-Fi双通道传输；电源：可充电锂电池，连续工作15小时；防护等级：IP54，适应-10℃至50℃环境；尺寸：180mm×70mm×25mm，重量仅320g。

产品特点：

纳米级测量精度，重复性稳定，满足高端制造严苛需求；轻量化设计，单手可握，适配复杂曲面检测场景；智能形貌重建算法，10秒内完成三维建模与参数分析；一键式自动校准与振动补偿功能，简化操作流程；符合ISO、GB、DIN等多国标准，是表面质量检测领域的性价比优选。