简介： 采用肖特基场发射电子枪 （FEG） 技术。先进的全柱加速技术集成到电子光学柱中 ，确保在低加速电压下具有出色的成像性能，实现各种材料的高分辨率成像。多 探测器系统高效收集样品发出的各种电子信号 进行成像，较大限度地揭示样品的微观形态和结构信息。