荧光光谱多层镀层分析仪
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荧光光谱多层镀层分析仪
来源:德恩斯仪器科技(无锡)有限公司
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简介: 德恩斯荧光光谱多层镀层分析仪是一款基于能量色散X射线荧光光谱(ED-XRF)技术的高精度检测设备,可实现金属及非金属基体上单层、双层及多层镀层的厚度与成分同步分析,覆盖0.005μm至9000μm量程,满足航空航天、汽车制造及新能源领域对涂层质量的严苛要求。
产品详细

 德恩斯


工作原理

设备通过X射线管激发样品表面元素,探测器捕捉特征荧光信号后,利用多元迭代EFP算法对一次荧光、二次荧光及靶材荧光数据进行解耦分析。例如,检测钕铁硼磁铁表面Ni/Cu/Ni/FeNdB四层镀层时,可精准区分第一层与第三层的厚度,误差≤±0.1%,同时识别镀层中Pb、Cd等有害元素含量,满足RoHS指令要求。其核心优势在于无需标样即可实现多层镀层的成分与厚度同步分析,且支持凹槽深度0-90mm的曲面样品检测。



应用范围


航空航天:测量飞机蒙皮镁合金阳极氧化膜、涡轮叶片热障涂层厚度;

汽车制造:验证车身电泳漆、面漆厚度及均匀性,检测电池模组排镀镍层;

新能源领域:分析电池极片铜箔/铝箔表面涂碳层厚度及碳含量均匀性;

电子电器:检测PCB板镀金层、手机外壳PVD镀膜厚度及耐磨性。

典型案例包括某新能源汽车企业通过该设备完成电池模组镀层检测,单次测量耗时≤2秒,效率较传统方法提升5倍。


技术参数


测量范围:0.005μm-9000μm;

元素分析:Cl(17)-U(92),检出限1ppm;

分辨率:0.001μm(镀层),0.1nm(光谱);

样品台:全自动XY移动平台(210mm×230mm),Z轴移动范围145mm;

光学系统:微光聚焦技术,光斑扩散度<10%(0-90mm变焦距离);

仪器尺寸:550mm×480mm×470mm,重量45kg。


产品特点


高精度智能:采用德国进口传感器,误差控制在±1%±1μm内,支持一键自动校准与数据存储;

一机多用:集成镀层测厚、成分分析及RoHS检测功能,适配铁磁性/非铁磁性基体;

高效稳定:宽光谱卤素灯光源与无感自动对焦系统,实现1.2m×0.7m大尺寸样品多点位无损检测;

耐用可靠:探头采用SU-8胶防护层,耐溶剂腐蚀,使用寿命超8年。

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标签:荧光光谱多层镀层分析仪,物理检测设备
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