工作原理

设备通过高压X射线管激发样品表面元素，原子内层电子受激发跃迁后释放特征荧光辐射，其能量与元素种类一一对应。美国进口SDD硅漂移探测器捕捉荧光信号后，经数字多道分析器（DPP）将模拟信号转化为数字信号，结合自主研发的FP（基本参数法）算法，消除基体效应干扰，实现多元素同步分析。例如，在分析不锈钢成分时，可精准区分铬（Cr）、镍（Ni）、钼（Mo）等元素，误差≤±0.1%。

应用范围

合金牌号鉴定：支持镁合金、铝合金、钛合金、高/中/低合金钢等200余种牌号快速识别；

质量控制：检测铜合金中铅（Pb）、锌（Zn）含量，确保符合RoHS指令；

新能源领域：分析锂电池极片铜箔/铝箔表面涂碳层厚度及碳含量均匀性；

废旧金属回收：对混合金属废料进行成分分类，提升回收效率。

技术参数

元素范围：Na11-U92，检出限低至1ppm；

含量分析：1ppm-99.99%，重复性≤0.1%；

检测效率：60-200秒完成全元素分析，支持实时刷新结果；

硬件配置：50W高效X射线管、SDD探测器（分辨率130eV±5eV）、自动切换准直器组；

样品适应性：支持块状、粉末、液体样品，最大样品尺寸Φ200mm×70mm。

产品特点

无损快速：无需制样，1-3分钟出结果，适合生产线在线检测；

高精度稳定：FP算法降低基体吸收增强效应，8小时稳定性≤0.05%；

智能操作：一键式自动测试，中英文界面切换，内置摄像头定位检测区域；

安全环保：三重辐射防护系统，符合CE安全标准，无需氩气/氦气消耗。