工作原理

设备搭载高功率X射线管与硅漂移探测器（SDD），通过发射高能X射线激发样品表面元素，外层电子跃迁至内层填补空位时释放特征X荧光。探测器捕获这些特征射线的能量与强度后，经德恩斯自主研发的“D-EDX”算法处理，生成元素种类及含量谱图。例如，检测某电子连接器镀层时，设备可在30秒内完成铅（Pb）含量测定，检出限低至1ppm，重复性误差≤±0.5%，符合IEC 62321标准。

应用范围

覆盖多场景环保检测需求：

电子制造：验证PCB板、连接器、线缆的ROHS1.0合规性；

汽车工业：检测发动机零部件、电池外壳的镉（Cd）与六价铬（Cr⁶⁺）含量；

新能源领域：评估光伏组件焊带、储能电池极耳的汞（Hg）污染风险；

行业应用：玩具安全检测、医疗器械材料认证、家电产品环保标签审核。

典型案例包括某家电企业通过设备完成空调压缩机外壳的ROHS1.0十项有害物质筛查，单次检测耗时≤2分钟，效率较传统湿法化学分析提升5倍。

技术参数

元素分析范围：硫（S）至铀（U），覆盖ROHS1.0全部限制物质；

检出限：1ppm（典型值）；

分析时间：30秒-300秒可调；

重复性误差：≤±0.5%（含量≥1000ppm）；

探测器类型：硅漂移探测器（SDD），能量分辨率≤160eV；

数据接口：USB/以太网输出，支持Excel/PDF报告生成。

产品特点

无损快速检测：无需制样，30秒完成单点测试，避免化学试剂污染；

高精度控制：采用进口X射线管与SDD探测器，检出限达1ppm级；

合规保障：内置IEC 62321、GB/T 26125等标准数据库，自动生成合规报告；

智能操作：10寸触摸屏实时显示元素谱图，支持多语言界面切换。