工作原理

A650采用能量色散型X射线荧光光谱（ED-XRF）技术。仪器内置微型X射线管，通过高压激发产生高能X射线，照射样品表面后，样品中的原子核外电子受激发跃迁，释放出具有特征能量的X射线荧光。高分辨率硅漂移探测器（SDD）捕获这些荧光信号，经多道分析器（MCA）转换为数字信号，再通过智能算法解析能量谱线，最终输出元素种类及含量。整个过程无需制样、无化学污染，单次检测时间仅需3-10秒。

应用范围

金属加工：来料检验、生产过程成分监控、不合格品筛查；

废旧回收：废旧金属分类、贵金属含量快速评估；

航空航天：高温合金、钛合金等关键材料成分验证；

电力石化：管道、阀门等设备材质鉴定及腐蚀分析；

珠宝文博：贵金属饰品纯度检测、文物金属成分溯源。

技术参数

元素检测范围：Mg（12）~U（92）；

检测限：10-500ppm（视元素及基体而定）；

管电压/电流：5-50kV/0-100μA可调；

探测器：高性能SDD探测器，分辨率＜145eV；

分析时间：3-300秒（用户可自定义）；

防护等级：IP54（防尘防水），适应恶劣环境。

产品特点

便携高效：整机重量仅1.5kg，配备可充电锂电池，支持8小时连续作业；

智能操作：5英寸触控屏，内置合金牌号库（覆盖ASTM、GB等标准），一键匹配材质；

精准可靠：采用动态校准技术，自动补偿基体效应，重复性误差＜0.05%；

安全耐用：三级辐射屏蔽设计，通过CE/RoHS认证，适应-10℃~50℃工作温度。