工作原理

仪器基于布拉格衍射定律（2dsinθ=nλ），利用X射线与晶体材料的相互作用。当单色X射线照射样品时，晶体中规则排列的原子使X射线产生衍射，形成特定空间分布的衍射峰。探测器捕获衍射信号后，结合专业软件分析衍射峰位置、强度及形状，通过数据库比对与算法计算，确定材料的物相组成、晶胞参数及原子排列方式。其核心技术包括θ/θ高垂直测角仪设计、高分辨率探测器及智能数据处理系统，确保检测精度与效率。

应用范围

材料科学研究：分析金属、陶瓷、高分子等材料的晶体结构、相变行为及残余应力，优化材料性能。

地质勘探：快速鉴定矿石矿物种类，分析土壤与岩石中的矿物组成，辅助资源评估。

生物医药：筛查药物多晶型，评估晶型稳定性，确保药品质量与疗效。

工业质量控制：监控薄膜涂层、电子元器件的晶体质量，检测金属材料内部缺陷。

考古与文化遗产保护：无损鉴定文物材质，分析古代陶瓷、金属的制造工艺。

产品技术参数

测角仪系统：θ-θ立式测角仪，衍射圆半径150mm，2θ角度范围-3°至+150°。

角度精度：全谱范围内<±0.02°偏差，分辨率<0.04°2θ（FWHM）。

探测器：高分辨率探测器，支持Cu、Co等多种靶材X射线源。

样品兼容性：支持粉末、块状及薄膜样品，最小检测量15mg（粒径<150μm）。

仪器尺寸：580mm×450mm×680mm（L×W×H），重量120kg，适用实验室固定安装。

电源与功耗：220V±10V，50Hz，整机功率1000W。

产品特点

高精度与稳定性：采用θ-θ测角仪与闭环控制系统，确保长期检测精度重复性。

智能分析软件：配备专业数据处理包，支持物相自动鉴别、结晶度计算及应力分析，一键生成检测报告。

多场景适配性：可选配马弗炉、自动进样器等附件，实现原位高温/环境相变追踪。

安全防护设计：三级辐射屏蔽结构，表面辐射剂量<0.1mRad/h，符合国家安全标准。

扩展性与兼容性：支持反射/透射双模式，兼容30位自动样品交换器，提升检测通量。