工作原理

仪器通过微型X射线管发射高能X射线，激发被测铜合金样品中的原子内层电子跃迁，释放出特征X射线荧光。高分辨率硅漂移探测器（SDD）捕获这些荧光信号后，结合多变量算法与标准谱库比对，实现多元素同步定量分析。其核心优势在于无需复杂前处理，直接对固体样品进行无损检测，且检测结果不受样品形态影响，确保数据准确性。

应用范围

冶金行业：检测铜合金铸锭、线材等产品的元素配比，确保材料性能符合标准。

电子电气：验证连接器、接插件中铜合金的导电性与弹性，保障产品可靠性。

汽车制造：监控发动机、传动系统等部件的铜合金材料成分，避免因元素偏析导致的性能下降。

废旧金属回收：快速分类含铜合金废料，提升回收价值与效率。

产品技术参数

X射线源：微型铍窗X射线管，电压50kV，电流100μA，阳极靶材可选Ag/Rh。

探测器：高分辨率SDD，能量分辨率<145eV，计数率>200,000cps。

测量范围：Cu（50%-99.9%），Zn（0.1%-40%），其他元素检测下限至0.01%。

尺寸与重量：500mm×400mm×300mm，主机净重25kg，适合实验室台式使用。

环境适应性：工作温度10℃至35℃，湿度≤80%，适应实验室稳定环境。

数据库：内置ASTM、GB等标准铜合金牌号库，支持自定义牌号添加。

产品特点

高精度与稳定性：采用双束光路设计与温度补偿技术，确保长期检测精度稳定性。

智能软件：搭载MetalXpert分析系统，支持自动校准、光谱拟合及报告生成，操作门槛低。

安全防护：三级辐射屏蔽设计，表面辐射剂量<0.1mRad/h，通过CE、RoHS认证。

多模式扩展：可选配真空腔体，提升轻元素检测灵敏度，扩展应用场景。

高效散热系统：内置智能温控风扇，确保仪器长时间稳定运行。