工作原理

PeDX G5采用能量色散型X射线荧光光谱技术，内置高性能微焦点X射线管与Si-PIN探测器。设备发射高能X射线照射样品表面，激发样品中原子产生特征荧光X射线，探测器接收信号后，通过内置算法解析光谱特征峰强度与能量，结合Super-FP校正算法与标准数据库，实时计算金属元素含量。仪器支持垂直光路设计，配备500万像素高清摄像头，可精准定位微小样品，确保检测区域准确性，同时具备自动温度补偿功能，适应复杂环境。

应用范围

珠宝行业：检测首饰成色、镀金层厚度及杂质含量，支持万足金（AU9999）至十万足金（AU99999）的纯度分析。

黄金回收：快速评估回收金饰、金条的纯度与价值，提高回收效率。

贵金属加工：监控生产过程中的原料纯度与成品质量，减少废品率。

典当与拍卖：为贵金属典当、拍卖提供权威成分鉴定报告。

技术参数

元素检测范围：镁（Mg）至铀（U），覆盖贵金属及常见杂质元素。

检测精度：±0.03%（999金），杂质元素（如Ag、Cu）检测极限达10ppm。

能量分辨率：<136eV，确保轻元素（如Mg、Al）分析准确性。

检测时间：单点测试1-3秒，连续扫描模式支持每分钟30次检测。

数据存储：内置32GB存储器，支持PDF/EXCEL格式报告导出。

防护等级：IP54，适应-20℃至50℃环境，防尘防水。

尺寸与重量：200mm×200mm×268mm，4.6kg，便携性优异。

产品特点

无损检测：无需样品预处理，保持材料完整性。

智能操作：一键式分析，非技术人员可快速上手。

多场景适配：支持蓝牙打印机、无线数据传输，满足现场与实验室需求。

安全可靠：配备射线防护装置与紧急停止按钮，符合国际安全标准。

定制化服务：提供用户自定义校准与报告模板，支持企业品牌标识嵌入。