工作原理

INSIGHT通过微聚焦X射线管发射高能X射线，照射至样品表面后激发镀层元素产生特征荧光X射线。能谱探头接收荧光信号并转换为电脉冲，经数据处理器分析后，根据元素特征峰强度与能量计算镀层厚度及成分比例。设备配备多准直器系统，可自动切换光斑尺寸（最小可达50μm），适应不同尺寸样品的检测需求。针对多层镀层结构，仪器采用智能分层算法，逐层剥离并分析各层厚度与成分，确保数据准确性。

应用范围

电子元器件：检测PCB电路板、连接器、引线框架的镀金、镀镍、镀锡层厚度。

五金卫浴：测量水龙头、阀门等零件的镀铬、镀锌层厚度。

珠宝首饰：分析贵金属饰品（如金、银、钯）的镀层均匀性与厚度。

汽车制造：监控发动机零部件、紧固件的防腐镀层质量。

半导体封装：检测引线框架的微米级镀层厚度，确保封装可靠性。

技术参数

测量范围：0.01μm-100μm（单层），支持≥5层复合镀层分析

分辨率：0.001μm

精度：±(2%H+0.02)μm（H为实际厚度）

元素检测范围：钛（Ti）至铀（U）

探测器：大面积Si-PIN探测器，分辨率优于145eV

准直器：可选配50μm、100μm、300μm等多种规格

显示与操作：10.1英寸触摸屏，支持中英文界面

数据接口：USB、以太网、蓝牙，支持MES系统对接

产品特点

非破坏性检测：X射线荧光技术无需接触样品，避免划痕或污染。

快速分析：单点测量仅需30秒，支持连续扫描模式。

智能软件：内置自动对焦、模式识别与多点程序功能，简化操作流程。

灵活适配：C型槽设计支持大尺寸样品（如PCB板），电动平台可选配实现自动化检测。

安全可靠：符合GB/T 16597-1996标准，配备辐射防护装置与紧急停止按钮。