工作原理

4XC显微镜采用无限远光学系统，通过高数值孔径（NA）平场消色差物镜（5X/10X/40X/100X可选）与可调亮度柯勒照明系统，将样品表面的微观细节放大并投射至目镜或数码接口。其核心为三目观察头设计，支持100%人眼观察与0%/100%数码成像自由切换，可外接高清工业相机（如500万像素CMOS传感器），实时捕捉金相图像并传输至计算机。配合专业金相分析软件，可对晶粒度、夹杂物、相组成等参数进行自动测量与统计，输出可视化报告。

应用范围

金属材料分析：钢铁、铝合金、铜合金等材料的晶粒度评级、非金属夹杂物检测、热处理效果评估；

失效分析：断口形貌观察、裂纹扩展路径分析、腐蚀产物成分鉴定；

质量控制：铸造件、锻造件、焊接件的微观缺陷检测（如疏松、偏析）；

科研教学：材料制备工艺优化、金相组织演变研究、实验教学演示与图像采集。

技术参数

光学系统：无限远校正光学系统，齐焦距离45mm

物镜配置：平场消色差物镜（5X/NA 0.12、10X/NA 0.25、40X/NA 0.65、100X油镜/NA 1.25）

目镜：高眼点宽视野目镜（10X/Φ20mm，带视度调节）

照明系统：6V/30W卤素灯（亮度连续可调），柯勒照明模式

数码接口：C-Mount标准接口（适配2/3英寸传感器），支持USB3.0传输

载物台：双层机械载物台（尺寸180mm×150mm，移动范围75mm×50mm，游标精度0.1mm）

调焦机构：同轴粗微调焦（粗调行程25mm，微调精度0.002mm）

产品特点

高清晰成像：平场消色差物镜与无限远光路设计，消除像差与色差，确保图像边缘清晰锐利。

智能分析功能：配套软件支持晶粒度自动评级（ASTM E112标准）、夹杂物分类统计、二值化图像处理等功能。

人性化操作：三目头30°倾斜设计，缓解长时间观察疲劳；载物台X/Y向锁定功能，防止样品意外移动。

耐用可靠：全金属机身与防霉处理光学部件，适应实验室高湿度环境；LED升级选项（可选配）提升光源寿命至5万小时。

模块化扩展：支持偏光装置、暗场附件、微分干涉相衬（DIC）模块的加装，满足多样化分析需求。