日立X射线镀层测厚仪
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日立X射线镀层测厚仪
来源:西安申科泰仪器设备有限公司
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简介: 西安申科泰仪器设备有限公司引进的日立X射线镀层测厚仪B系列,是一款基于X射线荧光光谱(XRF)技术的工业级高精度镀层分析设备,专为金属表面处理行业量身打造。
产品详细

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工作原理:

基于X射线与镀层元素的相互作用:仪器发射低能X射线束照射样品表面,激发镀层金属原子(如、铬、、金等)的特征荧光X射线,高分辨率探测器捕获信号并生成能量谱线,通过内置算法解析谱线强度与峰位,精准计算镀层厚度及成分比例。


应用范围:

应用于汽车零部件、电子元器件、五金卫浴、航空航天、新能源电池及科研机构等领域,适用于镀锌钢板、镀镍件、装饰性镀层(如24K金)、硬质涂层(如TiN)及光伏背板镀层的厚度检测。


产品技术参数:

测量范围:0.001μm-100μm(视镀层材质与基材类型)

测量精度:±(1-3%读数)(标准工况下,具体取决于元素与厚度)

重复性:≤0.3%(同一测量点连续10次测量)

元素检测:可分析11-92号元素(Na至U),覆盖常见镀层金属

测量时间:3-60秒/点(可调),支持快速扫描与高精度模式

显示方式:8.4英寸彩色触摸屏,支持中英文界面与实时数据趋势图

数据管理:内置200,000组数据存储,支持USB/以太网/Wi-Fi导出至Excel或PDF报告

电源:AC 100-240V,50/60Hz,功耗≤200W

防护等级:主机IP54,X射线安全符合ISO 11929及中国GB 18871标准


产品特点:

高精度与多元素分析:采用日立专利硅漂移探测器(SDD)与微型X射线管,分辨率≤135eV,可区分多层镀层厚度与成分差异。

智能操作与校准:一键自动校准,内置300+种标准样品数据库,支持自定义校准曲线与基材补偿。

非接触式无损检测:无需制样,最小测量区域0.1mm²,适配微小焊点、精密连接器等场景。

便携与工业级设计:主机重量5.2kg,一体化三防外壳,通过MIL-STD-810G振动测试,适配车间与实验室双环境。

云端数据集成:支持OPC UA协议与企业MES系统对接,实现检测数据实时上传、分析与追溯。

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标签:日立X射线镀层测厚仪,测厚仪
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