工作原理：

基于X射线与物质相互作用：仪器发射低能X射线照射样品表面，镀层元素吸收能量后激发特征荧光X射线，其能量与强度与镀层厚度及元素种类相关。仪器通过高精度探测器捕捉荧光信号，结合内置算法与数据库，实时换算出镀层厚度及成分比例。

应用范围：

应用于电子制造、汽车零部件、五金加工、航空航天及珠宝检测等行业，适用于电镀锌、镍、铬、铜、金、银等单金属镀层，以及镍-铬、铜-镍等合金镀层的厚度测量。

产品技术参数：

测量范围：0.005μm-100μm（视镀层材料而定）

测量精度：±(1%~3%读数+0.1μm)（具体取决于镀层类型）

元素分析范围：钛（Ti）至铀（U）之间的金属元素

检测时间：单点测量≤30秒，快速扫描模式≤5秒/点

显示方式：10.1英寸高清触摸屏，支持中英文操作界面

数据管理：内置128GB存储，支持USB/WiFi数据导出与云端同步

样品台：电动升降样品台（行程0-150mm），适配不同尺寸样品

电源：AC 220V±10%，50/60Hz

防护等级：符合GB/T 12163标准，配备铅屏蔽舱与辐射安全联锁装置

产品特点：

高精度与稳定性：采用进口硅漂移探测器（SDD）与微型X射线管，确保低检测限与长期稳定性。

智能分析软件：内置多行业镀层标准库，支持一键校准与自动报告生成，兼容ISO、ASTM等国际标准。

多模式测量：提供单点测量、连续扫描及区域成像功能，可视化显示镀层厚度分布。

安全环保设计：铅屏蔽舱与辐射剂量监测系统确保操作安全，符合国家辐射防护规范。

易用性与扩展性：模块化设计支持后期升级，可扩展成分分析、ROHS有害物质检测等功能。