半导体冷热台
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半导体冷热台
来源:北京精科智创科技发展有限公司
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简介: 冷热台作为一种能够精确控制样品温度的实验设备,为半导体材料研究提供了有力支持。通过冷热台,科研人员可以在不同的温度条件下对材料进行性能测试,了解材料的热稳定性、导电性、光学性能等关键参数。此外,冷热台还能模拟材料在极端温度环境下的表现,为材料的应用提供重要的参考数据。
产品详细

JKMDS-600型半导体冷热台

JKMDS-600型半导体冷热台


冷热台作为一种能够精确控制样品温度的实验设备,为半导体材料研究提供了有力支持。通过冷热台,科研人员可以在不同的温度条件下对材料进行性能测试,了解材料的热稳定性、导电性、光学性能等关键参数。此外,冷热台还能模拟材料在极端温度环境下的表现,为材料的应用提供重要的参考数据。

JKMDS-600是使用最为广泛的THMS600型高精度冷热台的加强型。其宽泛的温度范围(-196°C到600°C)和升温速率(0.1到150°C/min),以及高精度(全程0.1°C)和高稳定(<0.1°C),使其在各行业得到广泛的应用。

其中的关键组件热台由银质加热块、测温元件以及密闭腔室组成。样品放置在0.17mm厚的盖玻片上,盖玻片放置在高度抛光的银质加热元件上。银质加热元件保证了极佳的热传递和温度测量。精度高于0.1°C的铂电阻传感器提供了非常精确和稳定的温度信号。样品腔室是气密的,气体阀可以控制腔室内的环境,即惰性气体或湿度。

可以自动储存150对XY轴坐标,全电动式移动。

参数:

温度范围-196°C到600°C(-196℃需选择专用冷却系统)

可控加热速率0.1到150°C/min

通过LinkSys软件进行计算机控制

马达位置分辨率0.05µm

位置重复性<3um

150X,Y坐标可以存储

最大15mmX,Y移动

手动或计算机操作

可定义计算机扫描区域

7,10或16mm样品夹持器可用

全部速度范围内消除样品抖动

与图像系统联用,记录样品测定全过程

通风的底部窗口消除冷凝现象

最新设计的上盖可以允许快速更换镜头

使用热台支架直接安装热台

物镜工作距离.1mm到4.9mm

聚光镜最小工作距离12.7mm

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标签:半导体冷热台,检测设备
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